Microscopies à champ proche (AFM, EFM, MFM et STM) et optiques (SEEC)

AFM environnemental

 

 

 

 

Echantillons

  • Nature: isolants ou conducteurs
  • Préparation: adsorbés sur une surface plane
  • Dimension: jusqu’à 10 cm 

Scanners

  • XY= 10 ´ 10 m m Zmax=2mm : résolution atomique
  • XY= 100 ´ 100 m m Zmax=7mm + closed-loop (grande précision dans le replacement)

Environnements

  • T empérature: -20°C à 300°C
  • Liquide (cellule, circulation)
  • Atmosphère contrôlée (cloche)

Modes d’analyses

  • Imagerie 3D haute résolution ® Mesures é lectrique (et magnétique)
  • Spectroscopie de force 
  • Modification de surface sous pointe 
  •  Couplage microscopie-optique

 

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