Microscope Electronique à Balayage (JEOL, JSM 6510 LV)

 

Ce microscope, installé au dernier semestre 2011 à l'IMMM, permet de travailler sous vide conventionnel  ou  dégradé, ce  qui autorise l'étude de différents  types   d'échantillons  (métalliques,   céramiques,   polymères et   organiques) sous forme pulvérulente ou massive en  évitant au  maximum  les phénomènes  de  charge. Si nécessaire,  il  est  aussi possible  de travailler à basse température en fixant l'échantillon sur  un  support refroidi avec de l'azote liquide. Une caméra infrarouge installée sur le côté de la chambre permet de visualiser l'échantillon à l'intérieur du microscope.

L'appareil est équipé d'un système de suspension performant afin d'éviter les perturbations liées à l'environnement. Les conditions d'astigmatismes étant enregistrées en usine pour toutes les valeurs de tension et de distances de travail, une utilisation "en libre service" par le personnel du laboratoire est possible.

Caractéristiques techniques :

 - Canon : filament de tungstène

- Tension d’accélération : 0.5 à 30 kV

- Grossissement : x 5 à x 300 000

- Porte-objet  froid (JEOL) : LV cryo-holder

- Détecteur d'électrons secondaires de type  Everhart-Thornley

- Détecteur d'électrons secondaires en vide dégradé LVSED fonctionnant avec un temps de réponse extrêmement rapide

- Détecteur d'électrons rétrodiffusés annulaire de type NIP possédant 3 modes de fonctionnement (mode composition, mode topographie et mode "shadows")

- Système d'analyse EDS OXFORD avec le logiciel AZtec (SDD,  détecteur X-Max 20 mm2)

- Option Cryo : LV Cryo Holder pour observer des échantillons à froid sans mise en œuvre lourde.

 

Images de Microscopie Électronique à Balayage :

 

Analyse EDS

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