Plateforme diffusion et diffraction des rayons X

Plateforme Diffusion Diffraction des Rayons X

La plateforme « Diffusion-Diffraction des Rayons X » regroupe 6 instruments qui sont accessibles à l'ensemble des étudiants, enseignants, chercheurs et industriels désirant effectuer des manipulations de diffraction et ou de diffusion des rayons X. Les domaines d'analyses sont les suivants :

1)     Matériaux inorganiques et organiques

Diffraction des rayons X sur échantillon polycristallin sous forme de poudre ou d'échantillon massif (plan ou non plan) permet d'analyser tout type d'échantillon solide. Identification de phases à partir de bases de données (PDF inorganic 2015 ~200.000 entrées et PDF organic 2015 ~500.000 entrées). Analyse quantitative de phases par analyse Rietveld. Détermination de structure sur monocristal ou sur poudre. Analyse en température → 1200°C pour analyser les paramètres de dilatation thermique, les transitions de phases et les réactions chimiques.

2)     Nanomatériaux hybrides, Polymères nanocomposites, Liquides complexes et Biomolécules

Le signal X aux petits angles (SAXS) peut provenir notamment : des défauts d’un cristal ; de l’organisation en nanoparticules et cristallites ; de systèmes multi-phasés présentant des contrastes de densité électronique à l’échelle mésoscopique ; d’interfaces au sein d’un mélange de liquides non intimement miscibles ; d’agrégats organiques issus de l’auto-assemblage de molécules (tensioactif en solution et micelles de savons, agrégats de protéines, membranes biologiques,…), des fluctuations de densité à grande échelle d’un liquide (compressibilité, fluctuations près d’une transition de phase).

3)     Interfaces solides, Couches minces et multicouches.

La technique de réflectivité des rayons X spéculaire et hors spéculaire, ainsi que le GISAXS (SAXS en incidence rasante) permet de sonder la densité électronique d’une interface ou d’une couche mince sur une centaine de nanomètres ou plus avec une précision de mesure de l’épaisseur et des rugosités pouvant atteindre l’angstrœm sur les couches les moins rugueuses. Sur des couches composites, il est possible de mesurer l’ordre structural et les corrélations de position, en fonction de l’orientation de l’échantillon.

 

Les services proposés par la plateforme

Pour les utilisateurs issus de l'Institut, pour des mesures à température ambiante les instruments, MPD_I, MPD_II ainsi que Empyrean_II, sont en accès libre après une première formation. Les scientifiques d'autres laboratoires sont les bienvenus pour une collaboration avec le personnel de la plateforme et les chercheurs spécialistes des techniques.

Les industriels sont aussi les bienvenus dans le cadre de prestations ou d'études approfondies. Un accompagnement personnalisé sera proposé selon leurs problématiques.

 

Responsables de la plateforme

Pour de plus amples informations, contactez :

Pr François Goutenoire

francois.goutenoire @ univ-lemans.fr

tel : 02.43.83.33.54

Dr Guillaume Brotons

guillaume.brotons @ univ-lemans.fr

Collège utilisateurs

Les premières informations peuvent être prises via les deux responsables F. Goutenoire et G. Brotons. De nombreuses personnes interviennent également sur ces appareillages pour des prestations. Vous pouvez aussi vous adresser directement à ces personnes.

E-Mail @univ-lemans.fr

 

Tel 02.43.83

équipement(s)

champs d'action

francois.goutenoire

 

33.54

Empyrean II, MPD II

prestations DRX, formation, DRX en température, GIXRD

cyrille.galven

 

33.48

Empyrean II, MPD II

prestations DRX, DRX en température

gwenael.corbel

26.48

Empyrean II, MPD II

prestations DRX, DRX en température, XRK900

jerome.lhoste

33.59

Apex II

analyse sur monocristal

youping.gao

33.49

Empyrean II, MPD II

prestations DRX

frederic.amiard

32.63

Empyrean I, MPD I

Support DRX couche mince, SAXS, GISAXS

guillaume.brotons

26.25

Empyrean I, MPD I, SAX

Prestations SAXS/GISAXS/GIXRD/RRX speculaire et hors-spéculaire en température. Liquides, polymères biomolécules.

alain.gibaud

32.62

Empyrean I, MPD I, SAX

SAXS, GISAXS

jean-yves.botquelen

33.55

______

Personne Compétente en Radioprotection (PCR)

mathieu.edely

27.90

______

Personne Compétente en Radioprotection (PCR)



Formation proposée

Formation CNRS Rietveld 4 jours :https://cnrsformation.cnrs.fr/stage.php?stage=16266

 

Appareillages

Apex II : diffractomètre rayons X monocristallin.

Empyrean I : diffractomètre rayons X, analyses couches minces, SAXS et GISAXS.

Empyrean II : diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres.

MPD I : diffractomètre rayons X, analyses couches minces et SAXS.

MPD II : diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres.

 

 

 

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