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Diffusion, Diffraction et réflectivité des rayons X

Diffusion, Diffraction et réflectivité des rayons X

Responsable de la plateforme :  Sandy AUGUSTE
sandy.auguste @ univ-lemans.fr ou immm-plateformes @ univ-lemans.fr
02 43 83 33 59

Equipements

APEX II: diffractomètre rayons X monocristallin

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons monocristallins. Diffractomètre monocristal APEX II Quazar (4-circle Kappa goniometer) équipé d'une micro-source (IµS microfocus source - Mo Kα), d'un détecteur CCD 4 K et d'un cryostreamer Oxford (jusqu'à 100 K).

Empyrean I: diffractomètre rayons X, analyses couches minces, SAXS et GISAXS

Diffractomètre de Rayons X, équipé pour l’étude des interfaces planes, couches minces et poudres : Réflectivité X (XR), diffraction X en incidence rasante (GID) et diffusion rasante aux petits angles (GISAXS limité en angles). Equipé d’un tube X cuivre avec monochromateurs miroir multicouche sur source interchangeables, d’un goniomètre de précision (z,phi,chi), de collimateurs plans et d’un détecteur 2D à pixels indépendants).

Etude des couches minces (profil de densité électronique, épaisseur, rugosité...) et plus rarement des poudres. Equipé d’une chambre en température Anton Paar.

Empyrean II: diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons polycristallins en mode réflexion (matrice lourde) et transmission (matrice légère). Ce diffractomètre est équipé d'un détecteur rapide Pixel et d'un passeur automatique d'échantillons de 30 positions.

Environnements : 

GIXRD dédié aux échantillons polycristallins sous forme de couches minces (Grazing Incidence Xray Diffraction)

XRK900 dédié à l'étude en température (Tmax=900°C) sous différents gaz réactifs (H2, ..)

Accès libre après formation. Utilisation en autonomie complète (via planning) après formation aux premières utilisations dispensées par un utilisateur confirmé.

MPD II: diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons polycristallins en mode réflexion. Ce diffractomètre est équipé d'un passeur automatique d'échantillons 15 positions.

Environnement : HTK1200 dédié à l'étude en température (Tmax=1200°C) sous différents gaz neutres (N2, air ..). L'analyse en température permet d'accéder à la dilatation thermique, aux transitions de phases et aux transformations chimiques.

Accès libre après formation. Utilisation en autonomie complète (via planning) après formation aux premières utilisations dispensées par un utilisateur confirmé.

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