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Equipements

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APEX II: diffractomètre rayons X monocristallin

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons monocristallins. Diffractomètre monocristal APEX II Quazar (4-circle Kappa goniometer) équipé d'une micro-source (IµS microfocus source - Mo Kα), d'un détecteur CCD 4 K et d'un cryostreamer Oxford (jusqu'à 100 K),

Contact : Jérôme Lhoste.

Empyrean I: diffractomètre rayons X, analyses couches minces, SAXS et GISAXS

Diffractomètre de Rayon X, équipé pour l’étude des interfaces planes, couches minces et poudres : Réflectivité X (XR), diffraction X en incidence rasante (GID) et diffusion rasante aux petits angles (GISAXS limité en angles). Equipé d’un tube X cuivre avec monochromateurs miroir multicouche sur source interchangeables, d’un goniomètre de précision (z,phi,chi), de collimateurs plans et d’un détecteur 2D à pixels indépendants).

Etude des couches minces (profil de densité électronique, épaisseur, rugosité...) et plus rarement des poudres. Equipé d’une chambre en température Anton Paar

Accès encadré. Demande d’utilisation et formation obligatoire via les responsables scientifiques (Alain Gibaud AG, Guillaume Brotons GB, ..). Engage généralement une collaboration et un accompagnement des mesures et analyse avec ceux-ci. L’instrument étant souvent la clef de voute de plusieurs sujets de thèse et Master II en physique, il devient peu accessible sur certaines périodes (stages Master). Inscription sur planning avec priorisation par responsables. Instrument pouvant être endommagé lourdement en cas de mauvaise utilisation (changements des optiques entre configurations différentes et réinitialisations délicates avec risques de collisions, notamment après pannes, coupures électriques, erreurs de paramétrages des balayages).

Empyrean II: diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons polycristallins en mode réflexion (matrice lourde) et transmission (matrice légère). Ce diffractomètre est équipé d'un détecteur rapide Pixel et d'un passeur automatique d'échantillons de 30 positions.

Environnements : 

GIXRD dédié aux échantillons polycristallins sous forme de couches minces (Grazing Incidence Xray Diffraction)

(Contact F. Goutenoire FG accès encadré)

XRK900 dédié à l'étude en température (Tmax=900°C) sous différents gaz réactifs (H2, ..)

(Contact G. Corbel CG accès encadré)

Accès libre après formation. Utilisation en autonomie complète (via planning) après formation aux premières utilisations dispensées par un utilisateur confirmé.

Accès encadré pour les mesures spécifiques : GIXRD et XRK900, d'autres types de mesures peuvent être effectués : capillaire, échantillon non plan, changement de longueur d'onde (Cobalt, Chrome).

MPD I : diffractomètre rayons X, analyses couches minces et SAXS

Diffractomètre de Rayons X, équipé pour la réflectivité X des couches minces (tube X cuivre avec monochromateur arrière sur détecteur ponctuel à gaz, moteur translation échantillon en z). Utilisation dédiée à la formation des utilisateurs et mesure de la réflectivité X des couches minces.

Accès libre après formation. Utilisation en autonomie complète (via planning) après formation aux premières utilisations dispensées par un utilisateur confirmé. Peu de manipulations peuvent endommager l’instrument car on ne change pas ses configurations optiques.

MPD II: diffractomètre rayons X, analyses diffractométriques des poudres

Diffractomètre de rayons-X dédié aux échantillons polycristallins en mode réflexion. Ce diffractomètre est équipé d'un passeur automatique d'échantillons 15 positions.

Contact : Cyrille Galven (CG).

Environnement : HTK1200 dédié à l'étude en température (Tmax=1200°C) sous différents gaz neutres (N2, air ..). L'analyse en température permet d'accéder à la dilatation thermique, aux transitions de phases et aux transformations chimiques.

Cet environnement n'est pas en accès libre, pour toute expérience en température prendre contact avec un responsable local : CG, GC ou FG.

Accès libre après formation. Utilisation en autonomie complète (via planning) après formation aux premières utilisations dispensées par un utilisateur confirmé. Peu de manipulations peuvent endommager l’instrument car on ne change pas ses configurations optiques.

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