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La plateforme

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La plateforme « Diffusion, Diffraction et réflectivité des Rayons X » regroupe 6 instruments qui sont accessibles à l'ensemble des étudiants, enseignants, chercheurs et industriels désirant effectuer des manipulations de diffraction et ou de diffusion des rayons X. Les domaines d'analyses sont les suivants :

1)     Matériaux inorganiques et organiques

Diffraction des rayons X sur échantillon polycristallin sous forme de poudre ou d'échantillon massif (plan ou non plan) permet d'analyser tout type d'échantillon solide. Identification de phases à partir de bases de données (PDF inorganic 2015 ~200.000 entrées et PDF organic 2015 ~500.000 entrées). Analyse quantitative de phases par analyse Rietveld. Détermination de structure sur monocristal ou sur poudre. Analyse en température → 1200°C pour analyser les paramètres de dilatation thermique, les transitions de phases et les réactions chimiques.

2)     Nanomatériaux hybrides, Polymères nanocomposites, Liquides complexes et Biomolécules

Le signal X aux petits angles (SAXS) peut provenir notamment : des défauts d’un cristal ; de l’organisation en nanoparticules et cristallites ; de systèmes multi-phasés présentant des contrastes de densité électronique à l’échelle mésoscopique ; d’interfaces au sein d’un mélange de liquides non intimement miscibles ; d’agrégats organiques issus de l’auto-assemblage de molécules (tensioactif en solution et micelles de savons, agrégats de protéines, membranes biologiques,…), des fluctuations de densité à grande échelle d’un liquide (compressibilité, fluctuations près d’une transition de phase).

3)     Interfaces solides, Couches minces et multicouches.

La technique de réflectivité des rayons X spéculaire et hors spéculaire, ainsi que le GISAXS (SAXS en incidence rasante) permet de sonder la densité électronique d’une interface ou d’une couche mince sur une centaine de nanomètres ou plus avec une précision de mesure de l’épaisseur et des rugosités pouvant atteindre l’angstrœm sur les couches les moins rugueuses. Sur des couches composites, il est possible de mesurer l’ordre structural et les corrélations de position, en fonction de l’orientation de l’échantillon.

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